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FA -LT-2型单晶少子寿命测试仪图1

FA -LT-2型单晶少子寿命测试仪

2015-07-20 16:202880询价
价格 面议
发货 长春市朝阳区付款后3天内  
该产品库存不足
产品详情
测试单晶电阻率范围
 >2Ω.cm
 可测单晶少子寿命范围
 5μS~7000μS
 配备光源类型
 波长:1.09μm;余辉<1 μS;
 闪光频率为:20~30次/秒;
 闪光频率为:20~30次/秒;
 高频振荡源
 用石英谐振器,振荡频率:30MHz
 前置放大器
 放大倍数约25,频宽2 Hz-1 MHz
 仪器测量重复误差
 <±20%
 测量方式
 采用对标准曲线读数方式
 仪器消耗功率
 <25W
 仪器工作条件
 温度: 10-35℃、 湿度 < 80%、使用电源:AC 220V,50Hz
 可测单晶尺寸
 断面竖测:φ25mm—150mm; L 2mm—500mm;
 纵向卧测:φ25mm—150mm; L 50mm—800mm;
 配用示波器
 频宽0—20MHz;
 电压灵敏:10mV/cm;

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长春乐镤科技有限公司

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